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            型號:

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            華測絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯動,可高精度連續監測,高效簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。適用標準:JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
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            型號:

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            面對電子產品越來越小型輕量及高密度封裝,因結露吸濕等因素造成的絕緣bu良現象暨離子遷移現象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯動,可高精度連續監測,高效簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。
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